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探针测试装置测试座被知名半导体IDM选为标准解决方案

Multitest公司宣布,其Gemini™系列测试插座已被一家知名半导体IDM选为QFN封装器件的专用测试插座。经过数月评估,Gemini™在多类别产品竞争中脱颖而出。这次成功再次证明使用Gemini™技术的优势。这种测试座性能卓越,使用寿命长,初置成本低,为客户带来超过预期的低测试成本。

Gemini™测试座经过经心设计,能克服QFN接触的挑战。单边DUT(被测装置)针头式样和双簧探针结构提供了所需的DUT管脚接触压,这样就克服了无铅装置上面常见的氧化物积层问题。探针基底异常坚硬,既最大程度上减少了磨损,又延长了测试座使用寿命。此外,平行电流通路使载流能力最大化、减少了接触阻抗,并且提供极低电感环境。

Multitest Gemini™测试座设计为探针增添槽孔,优化探针布局。槽孔使探针针头精确对齐被测QFN器件低至0.4mm间距的管脚。探针在优化位置进行排列,确保最低电感和最佳阻抗匹配环境。Gemini™测试座是业内领先的高性能解决方案,适于接收器、发射器、4G装置、Wimax、USB 3.0及其他RF装置的大容量半导体测试。


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